產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
上海鑄金分析儀器有限公司可提供多系列的涂層測厚儀、鍍層厚度檢測儀等形貌測量?jì)x器。x熒光鍍層測厚儀器Ux-720是具有較高精度的國產(chǎn)x熒光測厚儀。x熒光鍍層測厚儀器Ux-720
詳情介紹：
x熒光鍍層測厚儀器Ux-720產(chǎn)品功能：
1. Ux-720國產(chǎn)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結果佳。
2. 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無(wú)論是生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制，還是來(lái)料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會(huì )提供友好的體驗和滿(mǎn)足檢測的需求。
3. Ux-720微移動(dòng)平臺和高清CCD搭配，旋鈕調節設計在殼體外部，觀(guān)察移動(dòng)位置簡(jiǎn)單方便。
4. X射線(xiàn)熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件，無(wú)損、快速和更準確的特點(diǎn)，對在電子和半導體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。
5. Ux-720鍍層測厚儀采用了FlexFp -Multi技術(shù)，不在受標準樣品的限制，在無(wú)鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結果可靠。
6. 樣品移動(dòng)設計為樣品腔外部調節，多點(diǎn)測試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷，有助于提升效率。
設計更科學(xué)，軟硬件配合，機電聯(lián)動(dòng)，輻射**高于國標GBZ115-2002要求。
7. 軟件操作具有操作人員分級管理權限，一般操作員、主管使用不同的用戶(hù)名和密碼登陸，測試的記錄報告同時(shí)自動(dòng)添加測試人的登錄名稱(chēng)。
x熒光鍍層測厚儀器Ux-720產(chǎn)品指標：
測厚技術(shù)：X射線(xiàn)熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類(lèi)：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數：10層
測量用時(shí)：30-120秒
探測器類(lèi)型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數：0-50Kv，50W，側窗類(lèi)；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：專(zhuān)用3種自動(dòng)切換；
CCD觀(guān)察：260萬(wàn)像素
微移動(dòng)范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環(huán)境：非真空條件
數據通訊：USB2.0模式
準直器：?1mm，?2mm，?4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區：開(kāi)放工作區 自定義
x熒光鍍層測厚儀器Ux-720標準配件：
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜：100張
保險管：3支
計算機主機：品牌+雙核
顯示屏：19寸液晶
打印機：噴墨打印機
x熒光鍍層測厚儀器Ux-720可選配件：
可升級為SDD探測器
1. Ux-720國產(chǎn)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結果佳。
2. 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無(wú)論是生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制，還是來(lái)料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會(huì )提供友好的體驗和滿(mǎn)足檢測的需求。
3. Ux-720微移動(dòng)平臺和高清CCD搭配，旋鈕調節設計在殼體外部，觀(guān)察移動(dòng)位置簡(jiǎn)單方便。
4. X射線(xiàn)熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件，無(wú)損、快速和更準確的特點(diǎn)，對在電子和半導體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。
5. Ux-720鍍層測厚儀采用了FlexFp -Multi技術(shù)，不在受標準樣品的限制，在無(wú)鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結果可靠。
6. 樣品移動(dòng)設計為樣品腔外部調節，多點(diǎn)測試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷，有助于提升效率。
設計更科學(xué)，軟硬件配合，機電聯(lián)動(dòng)，輻射**高于國標GBZ115-2002要求。
7. 軟件操作具有操作人員分級管理權限，一般操作員、主管使用不同的用戶(hù)名和密碼登陸，測試的記錄報告同時(shí)自動(dòng)添加測試人的登錄名稱(chēng)。
x熒光鍍層測厚儀器Ux-720產(chǎn)品指標：
測厚技術(shù)：X射線(xiàn)熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類(lèi)：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數：10層
測量用時(shí)：30-120秒
探測器類(lèi)型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數：0-50Kv，50W，側窗類(lèi)；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：專(zhuān)用3種自動(dòng)切換；
CCD觀(guān)察：260萬(wàn)像素
微移動(dòng)范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環(huán)境：非真空條件
數據通訊：USB2.0模式
準直器：?1mm，?2mm，?4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區：開(kāi)放工作區 自定義
x熒光鍍層測厚儀器Ux-720標準配件：
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜：100張
保險管：3支
計算機主機：品牌+雙核
顯示屏：19寸液晶
打印機：噴墨打印機
x熒光鍍層測厚儀器Ux-720可選配件：
可升級為SDD探測器
