產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
本頁(yè)是為您展示的法國JY輝光放電光譜儀GD-Profiler產(chǎn)品信息，含有輝光放電光譜儀GD-Profiler參考圖片、主要特點(diǎn)、主要功能等。輝光放電光譜儀GD-Profiler是快元素深度分布分析工具。對于解決分析問(wèn)題，即使是復雜的基體，提供高分別率和元素數量。它可以讓你快速得到深度方向關(guān)于C，N，O和其他元素的信息，從而讓你可以更好的控制熱處理工藝的過(guò)程。
詳情介紹：
輝光放電光譜儀GD-Profiler產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
法國Jobin Yvon GD-Profiler型輝光放電光譜儀是快元素深度分布分析工具。對于解決分析問(wèn)題，即使是復雜的基體，提供高分別率和元素數量。60種元素（包括氣體元素）可以同時(shí)分析。他集合了JY公司30多年在GDS上的經(jīng)驗。 它可以讓你快速得到深度方向關(guān)于C，N，O和其他元素的信息，從而讓你可以更好的控制熱處理工藝的過(guò)程。在冶金工業(yè)中，化學(xué)成份的分析是對力學(xué)試驗的補充。其應用尤其適合于汽車(chē)，齒輪，風(fēng)車(chē)等行業(yè)。
輝光放電光譜儀GD-Profiler主要特點(diǎn):
●RF射頻發(fā)生器- 標準配置，可進(jìn)行元素總量分析，分析時(shí)間約為90秒，分析速度比其他表面分析技術(shù)快上100倍；濺射率一般為3μm/min；
●實(shí)現從1nm至深達150μm的元素深度分布分析；
●射頻輝光放電光譜的靈敏度為10 原子/cm ；
●一次激發(fā)可以同時(shí)分析所有元素（包括H, O, Cl等） ；
●脈沖射頻設計的光源為導體、非導體、薄膜、涂層、合金、陶瓷、粉末等類(lèi)型的物質(zhì)提供了廣>的分析應用前景；
●多道(同時(shí))型光學(xué)系統可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠紫外；
●低至0.3L/分鐘的氬氣消耗降低了分析成本；
●**的單色儀(選配件)可*大的提高儀器的靈活性，即能實(shí)現n+1通道分析；
●磚利HDD 檢測器可進(jìn)行>速而高靈敏的檢測，動(dòng)態(tài)范圍達到10個(gè)量級；
●寬大的樣品室方便各類(lèi)樣品的加載；
●激光指點(diǎn)器(CenterLite laser pointer，磚利申請中)可用于精 確加載樣品。
輝光放電光譜儀GD-Profiler主要用途：
導電材料和非導電材料的基體、鍍層（涂層）中的化學(xué)元素含量分析；熱處理工件（滲碳、滲氮）等的元素深度定量分析；導電材料表面覆蓋有一層或多層導電或不導電鍍層（涂層）中化學(xué)元素的分析；非導體材料表面覆蓋有一層或多層導電或不導電鍍層（涂層）中化學(xué)元素的分析等。
法國Jobin Yvon GD-Profiler型輝光放電光譜儀是快元素深度分布分析工具。對于解決分析問(wèn)題，即使是復雜的基體，提供高分別率和元素數量。60種元素（包括氣體元素）可以同時(shí)分析。他集合了JY公司30多年在GDS上的經(jīng)驗。 它可以讓你快速得到深度方向關(guān)于C，N，O和其他元素的信息，從而讓你可以更好的控制熱處理工藝的過(guò)程。在冶金工業(yè)中，化學(xué)成份的分析是對力學(xué)試驗的補充。其應用尤其適合于汽車(chē)，齒輪，風(fēng)車(chē)等行業(yè)。
輝光放電光譜儀GD-Profiler主要特點(diǎn):
●RF射頻發(fā)生器- 標準配置，可進(jìn)行元素總量分析，分析時(shí)間約為90秒，分析速度比其他表面分析技術(shù)快上100倍；濺射率一般為3μm/min；
●實(shí)現從1nm至深達150μm的元素深度分布分析；
●射頻輝光放電光譜的靈敏度為10 原子/cm ；
●一次激發(fā)可以同時(shí)分析所有元素（包括H, O, Cl等） ；
●脈沖射頻設計的光源為導體、非導體、薄膜、涂層、合金、陶瓷、粉末等類(lèi)型的物質(zhì)提供了廣>的分析應用前景；
●多道(同時(shí))型光學(xué)系統可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠紫外；
●低至0.3L/分鐘的氬氣消耗降低了分析成本；
●**的單色儀(選配件)可*大的提高儀器的靈活性，即能實(shí)現n+1通道分析；
●磚利HDD 檢測器可進(jìn)行>速而高靈敏的檢測，動(dòng)態(tài)范圍達到10個(gè)量級；
●寬大的樣品室方便各類(lèi)樣品的加載；
●激光指點(diǎn)器(CenterLite laser pointer，磚利申請中)可用于精 確加載樣品。
輝光放電光譜儀GD-Profiler主要用途：
導電材料和非導電材料的基體、鍍層（涂層）中的化學(xué)元素含量分析；熱處理工件（滲碳、滲氮）等的元素深度定量分析；導電材料表面覆蓋有一層或多層導電或不導電鍍層（涂層）中化學(xué)元素的分析；非導體材料表面覆蓋有一層或多層導電或不導電鍍層（涂層）中化學(xué)元素的分析等。
